Contenido del servicio
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Artículo de prueba |
Unidad de cotización |
Tipo de muestra |
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Procesamiento y metrología de secciones transversales |
Hora (horas) |
Semiconductor samples such as 3D NAND, DRAM, MEMS; other samples requiring large-size (>50 µm) procesamiento |
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Preparación de muestras de TEM XS de gran-tamaño (-sección transversal) |
Hora (horas) |
Igual que arriba |
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Preparación de muestra de TEM PV de gran-tamaño (-vista de plan) |
Hora (horas) |
Igual que arriba |
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Microfabricación (grabado o deposición) |
Hora (horas) |
Igual que arriba |
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Análisis de retardo (Delayer) |
Hora (horas) |
Análisis de estratificación de muestras de puntos calientes |
Alcance del servicio
Ver detalles del servicio, tipos de muestra.
Artículos de prueba
Ver detalles del servicio, elementos de prueba.
Ciclo de prueba
El ciclo de prueba estándar es de 3 días calendario. Para requerimientos especiales, podemos brindar cotizaciones para diferentes tiempos de respuesta: 48h, 24h y 12h.
Nuestras ventajas
Los miembros de nuestro equipo en GRGTEST Metrology Platform tienen un promedio de más de 5 años de experiencia práctica en microscopía electrónica, lo que nos permite brindar servicios de prueba precisos, rápidos y profesionales.
Nuestros tubos de microscopio PFIB de nueva generación pueden lograr el mayor rendimiento y la más alta calidad en el procesamiento de secciones transversales y el micromecanizado.
Combinado con un pulido final a 500 V, podemos lograr la preparación de muestras TEM sin Ga+-de la más alta calidad.
Etiqueta: pfib (haz de iones enfocado en plasma), proveedor de servicios pfib (haz de iones enfocado en plasma) de China
