Proyección de componentes electrónicos

Proyección de componentes electrónicos
Detalles:
GRG Test ha creado un negocio de confiabilidad de componentes electrónicos y puede proporcionar a los usuarios pruebas de componentes electrónicos, evaluación, garantía de calidad de conjuntos completos de esquemas, que cubren varios elementos de detección y prueba de componentes electrónicos, que pueden eliminar componentes no calificados, mejorar la confiabilidad de uso de componentes electrónicos, mejorando así la calidad y confiabilidad de los componentes electrónicos.
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Descripción
Parámetros técnicos
DESCRIPCIÓN DEL PRODUCTO

 

Los proyectos de selección únicos y las condiciones de estrés que llevan a cabo los fabricantes de componentes difícilmente pueden satisfacer las necesidades de desarrollo de equipos; además, a menudo hay algunos productos industriales o de calidad media y baja e incluso posiblemente productos falsos y de calidad inferior en los componentes importados, lo que dificulta garantizar la calidad y confiabilidad de los equipos electrónicos.

 

Ciclo de prueba

 

2-4 semanas, durante las cuales se proporcionarán servicios integrales de detección y prueba de componentes electrónicos; y se encuentran disponibles servicios urgentes.

 

Definición del producto

 

Resistencia; condensador; perla magnética; inductor; transformador; oscilador de cristal; resonador de cristal; relé; dispositivos discretos semiconductores (diodo, triodo, FET, matriz Darlington, dispositivo optoelectrónico semiconductor, etc.); conector eléctrico; elementos de interruptor y panel; circuito integrado semiconductor (circuito de base de tiempo, transceptor de bus, búfer, controlador, traductor de nivel, dispositivo de compuerta, disparador, transceptor de línea LVDS, amplificador operacional, regulador de voltaje, comparador de voltaje, chip de potencia (regulador de voltaje, convertidor de potencia de conmutación, monitor de potencia, administración de energía, etc.), convertidor digital a analógico (A/D, D/A, SRD), memoria, dispositivo lógico programable, microcomputadora de un solo chip, microprocesador, controlador, etc.); filtro; módulo de potencia; IGBT, etc.

 

Elementos de prueba

 

S/N Elementos de prueba Cantidad de Muestra Método de prueba
1 Inspección visual Según lo solicitado por el cliente Modelos GJB128, GJB548, etc.
2

Prueba de rendimiento eléctrico:

Prueba de temperatura normal/prueba de temperatura alta/prueba de temperatura baja

Según lo solicitado por el cliente Método de prueba GB o GJB
GJB33, GJB63, GJB65, GJB1042, GJB1432, GJB1648, GJB2438, GJB2138, GJB597,
……
3

Prueba de estrés ambiental/mecánico:

Barrido de frecuencia/vibración aleatoria, almacenamiento a baja temperatura, almacenamiento a alta temperatura, ciclo de temperatura, choque de temperatura, aceleración o caída constante, sellado (detección de fugas gruesas, detección de fugas finas), PIND

Según lo solicitado por el cliente GJB360,GJB128,GJB548,
GJB33, GJB63, GJB65, GJB1042, GJB1432, GJB1648, GJB2438, GJB2138, GJB597,
……
4 Vida/envejecimiento/quemado Según lo solicitado por el cliente GJB360, GJB128, GJB548
5 Prueba ultrasónica de unión de chips Según lo solicitado por el cliente GJB548
6 Radiografía de rayos X Según lo solicitado por el cliente GJB360, GJB128, GJB548

 

 

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