Contenido/alcance del servicio y elementos de prueba
a. Muestras de secciones delgadas-TEM
Una aplicación importante de la microscopía de haz de iones enfocado-de doble haz (DB-FIB) es la preparación de muestras ultrafinas para microscopía electrónica de transmisión (TEM). GRGTEST Metrology puede proporcionar los siguientes elementos de prueba para esta aplicación:
Contenido del servicio
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Artículo de prueba |
Unidad de cotización |
Tipo de muestra |
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Muestra XS a base de silicio (Si) (sección transversal) Preparación de muestras |
Cada uno (ea) |
Chips de proceso avanzado a 14 nm y menos; chips de 28 nm, 40 nm, 55 nm y superiores |
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Preparación de muestras de PV de muestra a base de silicio (Si) (vista en plano-) |
Cada uno (ea) |
Chips de proceso avanzado a 14 nm y menos; chips de 28 nm, 40 nm, 55 nm y superiores |
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Preparación de muestras XS (sección transversal) sin-basada en silicio |
Hora (horas) |
Muestras sin base de silicio, incluido el arseniuro de galio (GaAs), el nitruro de galio (GaN), el carburo de silicio (SiC), etc. |
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Preparación de muestras de PV de muestra sin-basado en silicio (vista de plan-) |
Hora (horas) |
Muestras sin base de silicio, incluido el arseniuro de galio (GaAs), el nitruro de galio (GaN), el carburo de silicio (SiC), etc. |
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Preparación de muestras especiales |
Hora (horas) |
Varias muestras de materiales nuevos, incluidos materiales para baterías de litio, materiales para electrodos de grafeno, etc. |
b. Análisis de sección transversal-del punto de acceso de FA
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Artículo de prueba |
Unidad de cotización |
Tipo de muestra |
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Análisis de sección cruzada-de puntos de acceso FA (incluidos los puntos de acceso capturados mediante métodos como OBIRCH; hay disponibles-pruebas integrales que incluyen la captura de puntos de acceso) |
Hora (horas) |
Muestras de semiconductores: Wafer, IC, componentes, MEMS, láseres, etc. |
do. Procesamiento de secciones transversales-convencionales
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Artículo de prueba |
Unidad de cotización |
Tipo de muestra |
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Procesamiento de secciones transversales-dirigido |
Hora (horas) |
Muestras de semiconductores: oblea, circuitos integrados, componentes, PCB, MEMS, láseres, etc.; otras muestras que no sean semiconductores |
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Procesamiento de secciones transversales no-dirigidas- |
Hora (horas) |
Muestras de semiconductores: oblea, circuitos integrados, componentes, PCB, MEMS, láseres, etc.; otras muestras que no sean semiconductores |
Ciclo de prueba
El ciclo de prueba estándar es de 3 días calendario. Para requerimientos especiales, podemos brindar cotizaciones con diferentes tiempos de respuesta de 48h, 24h y 12h.
Nuestras ventajas
Los miembros del equipo de GRGTEST Measurement poseen experiencia relevante en procesos avanzados de fabricación de obleas. Nos adherimos a un enfoque-centrado en el cliente y nos comprometemos a proporcionar servicios de pruebas precisos, oportunos e integrales.
GRGTEST Measurement es la mayor empresa de pruebas-de terceros-propiedad estatal que cotiza en China. Nuestra plataforma tiene un mecanismo de gestión sólido y capacidades integrales de prueba y análisis de procesos-completos, lo que nos permite ofrecer a los clientes análisis oportunos y autorizados para proyectos completos.
Requisitos de muestra
Anhidro; las muestras no deben contener ningún componente líquido; estable bajo irradiación con haz de iones (algunas muestras orgánicas no pueden detectarse); Las dimensiones generalmente no exceden los 10 cm * 10 cm * 5 cm (largo * ancho * alto).
Etiqueta: db-fib (haz de iones enfocado-doble-), proveedor de servicios de China db-fib (haz de iones enfocado-doble-haz)
